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美國光學(xué)特性測量技術(shù)發(fā)展情況及特點(diǎn)
簡要介紹了美國地基、空基、天基光學(xué)特性測量技術(shù)的發(fā)展情況,對其在光學(xué)特性測量技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展的特點(diǎn)給予了分析、總結(jié).
作 者： 邢強(qiáng)林 譚謙 唐嘉 XING Qiang-lin TAN Qian TANG Jia 作者單位： 北京跟蹤與通信技術(shù)研究所·北京·100094 刊 名： 飛行器測控學(xué)報 ISTIC 英文刊名： JOURNAL OF SPACECRAFT TT & C TECHNOLOGY 年，卷(期)： 2007 26(1) 分類號： V556.5 關(guān)鍵詞： 光學(xué)特性測量 紅外輻射特性測量 光譜特性測量【美國光學(xué)特性測量技術(shù)發(fā)展情況及特點(diǎn)】相關(guān)文章：
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