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彈上電子產(chǎn)品發(fā)射可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證必要性判別方法
提出了彈上電子產(chǎn)品開(kāi)展發(fā)射可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)的必要性判別方法,論述了彈上電子產(chǎn)品完成飛行可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)后,無(wú)須再開(kāi)展發(fā)射可靠性驗(yàn)證試驗(yàn),為工程決策提供了技術(shù)支撐.
作 者: 寧建法 李文釗 Ning Jianfa Li Wenzhao 作者單位: 寧建法,Ning Jianfa(海裝天津局駐航天一院軍代表室,北京,100076)李文釗,Li Wenzhao(北京宇航系統(tǒng)工程研究所,北京,100076)
刊 名: 強(qiáng)度與環(huán)境 ISTIC 英文刊名: STRUCTURE & ENVIRONMENT ENGINEERING 年,卷(期): 2010 37(2) 分類號(hào): V416 關(guān)鍵詞: 彈上電子產(chǎn)品 發(fā)射可靠性 驗(yàn)證試驗(yàn) 必要性 判別方法【彈上電子產(chǎn)品發(fā)射可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證必要性判別方法】相關(guān)文章:
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