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固體推進(jìn)劑空穴損傷的理論與實(shí)驗(yàn)分析
在空穴累積損傷和微孔洞形核、長(zhǎng)大和匯合損傷二種損傷模式分析的基礎(chǔ)上, 提出一個(gè)空穴損傷細(xì)觀力學(xué)模型,根據(jù)粘彈性對(duì)應(yīng)原理和數(shù)學(xué)分析, 求得空穴損傷演變的二個(gè)理論數(shù)學(xué)表達(dá)式.采用空穴損傷非接觸診斷專利技術(shù), 進(jìn)行老化藥柱的空穴損傷實(shí)驗(yàn)研究, 求得一種固體復(fù)合推進(jìn)劑的空穴損傷演變的實(shí)驗(yàn)曲線和使用壽命.因?yàn)橘A存失效臨界點(diǎn)是實(shí)測(cè)的,對(duì)比實(shí)驗(yàn)分析表明:若藥柱貯存時(shí)間超過(guò)貯存失效臨界點(diǎn),則藥柱要出現(xiàn)裂紋,超過(guò)的時(shí)間越長(zhǎng)則藥柱中的裂紋就越大.
作 者： 沈庭芳 趙伯華 作者單位： 沈庭芳(北京理工大學(xué),應(yīng)用物理系,北京,100081)趙伯華(北京理工大學(xué),機(jī)電工程學(xué)院,北京,100081)
刊 名： 推進(jìn)技術(shù) ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF PROPULSION TECHNOLOGY 年，卷(期)： 2002 23(1) 分類號(hào)： V512 關(guān)鍵詞： 固體推進(jìn)劑 推進(jìn)劑可儲(chǔ)存性 裂紋 儲(chǔ)存壽命 微觀力學(xué)【固體推進(jìn)劑空穴損傷的理論與實(shí)驗(yàn)分析】相關(guān)文章：
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