磁浸沒(méi)透鏡的寬束曲軸像差分析的微分代數(shù)方法研究

微分代數(shù)是計(jì)算機(jī)數(shù)值分析領(lǐng)域中的一個(gè)非常有效的方法,可以實(shí)現(xiàn)任意高階微分的準(zhǔn)確計(jì)算.本文根據(jù)微分代數(shù)方法的基本原理,將其引入到磁浸沒(méi)透鏡的寬束曲軸像差的分析計(jì)算中,得到了任意階曲軸像差的微分代數(shù)表達(dá)式.文中針對(duì)軸上磁場(chǎng)具有某種解析表達(dá)式的一個(gè)實(shí)際的磁浸沒(méi)透鏡系統(tǒng),利用微分代數(shù)的曲軸像差分析方法,計(jì)算了它的曲軸像差,并給出了全部二階和三階幾何像差的分布圖形.

作 者： 程敏 唐天同 姚振華 王振華   作者單位： 西安交通大學(xué)電子與信息工程學(xué)院,陜西西安,710049  刊 名： 電子學(xué)報(bào)  ISTIC EI PKU 英文刊名： ACTA ELECTRONICA SINICA  年，卷(期)： 2002 30(6)  分類號(hào)： O463.1  關(guān)鍵詞： 微分代數(shù)   磁浸沒(méi)透鏡   曲軸像差  

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