XAFS在凝聚態(tài)物質(zhì)研究中的應(yīng)用
詳細介紹了X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜學(xué)(XAFS)的理論、數(shù)據(jù)分析及實驗等基本原理,以及XAFS在薄膜、納米結(jié)構(gòu)和體相材料(包括半導(dǎo)體、合金以及復(fù)雜氧化物)等凝聚態(tài)物質(zhì)研究中的應(yīng)用;同時,還介紹了原位XAFS、微區(qū)XAFS和時間分辨XAFS等新的實驗方法,并對該方法的應(yīng)用前景進行了展望.
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作 者:
韋世強 孫治湖 潘志云 閆文盛 鐘文杰 賀博 謝治 韋正 WEI Shi-qiang SUN Zhi-hu PAN Zhi-yun YAN Wen-sheng ZHONG Wen-jie HE Bo XIE Zhi WEI Zheng
作者單位:
中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)國家同步輻射實驗室,安徽合肥,230029
刊 名:
中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)學(xué)報 ISTIC PKU
英文刊名:
JOURNAL OF UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA
年,卷(期):
2007 37(4)
分類號:
O722
關(guān)鍵詞:
同步輻射 XAFS 原子和電子結(jié)構(gòu) 納米結(jié)構(gòu) 凝聚態(tài)物質(zhì)
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