激光輻照TiO2/SiO2薄膜損傷時間簡捷測量

為了測量激光輻照薄膜的起始時間,采用了一種簡潔易行的測量方法,利用波長1.06μm和1.315μm連續(xù)激光以及1.06μm單脈沖激光輻照典型薄膜光學(xué)元件,通過探測器接收激光脈沖信號和薄膜表面的激光反射信號,薄膜表面反射信號在激光輻照過程中的某個時刻發(fā)生突變,發(fā)生突變的時間對應(yīng)著薄膜發(fā)生損傷的時間.得到1.06μm連續(xù)激光強度為7133W/cm2時,反射信號在0.8s發(fā)生突變,強度為11776W/cm2時,反射信號在0.4s發(fā)生變化;1.06μm單脈沖激光能量為48.725mJ,97.45mJ,194.9mJ時,薄膜損傷時間為3.63ns,2.727ns和1.09ns;1.315μm連續(xù)激光強度為2743W/cm2時,反射光信號在輻照時間t=3.44s發(fā)生突變;強度為4128W/cm2時,薄膜表面反射光信號在輻照時間t=1.44s發(fā)生突變.結(jié)果表明,通過測量薄膜表面反射信號的突變來確定薄膜損傷的起始時間,對于薄膜抗激光加固,以及提高光電系統(tǒng)的抗激光能力有著重要的意義.

作 者： 周維軍 袁永華 桂元珍 ZHOU Wei-jun YUAN Yong-hua GUI Yuan-zhen   作者單位： 中國工程物理研究院,流體物理研究所,綿陽,621900  刊 名： 激光技術(shù)  ISTIC PKU 英文刊名： LASER TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2007 31(4)  分類號： O484.5  關(guān)鍵詞： 薄膜   激光   時間測量   損傷  

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