- 相關(guān)推薦
掠出射X射線熒光光譜儀研制
掠出射X射線熒光分析技術(shù)是分析薄膜特性和介質(zhì)表面的一種重要工具.文中簡(jiǎn)述了利用掠出射X射線熒光技術(shù)分析薄膜厚度的原理和方法,介紹了一種在實(shí)驗(yàn)室里由激發(fā)光源、樣品承載系統(tǒng)、色散系統(tǒng)、探測(cè)系統(tǒng)和數(shù)據(jù)收集及處理系統(tǒng)構(gòu)成的掠出射X射線熒光光譜儀系統(tǒng),并給出了利用55Fe放射性同位素標(biāo)定該光譜儀系統(tǒng)的試驗(yàn)結(jié)果.
作 者: 鞏巖 尼啟良 陳波 曹健林 作者單位: 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 應(yīng)用光學(xué)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,吉林長(zhǎng)春 130022 刊 名: 光學(xué)精密工程 ISTIC EI PKU 英文刊名: OPTICS AND PRECISION ENGINEERING 年,卷(期): 2002 10(6) 分類號(hào): O431.1 關(guān)鍵詞: 掠出射X射線熒光 光譜分析 薄膜【掠出射X射線熒光光譜儀研制】相關(guān)文章:
高能X射線的硬化校正04-27
X射線熒光光譜分析法在土壤樣品多元素分析中的應(yīng)用04-26
偏振能量色散X射線熒光光譜法測(cè)定土壤中金屬元素04-26
名人故事:倫琴發(fā)現(xiàn)X射線的故事10-23
土壤環(huán)境質(zhì)量指標(biāo)Pb、As、Zn、Cu、Ni、Cr的X射線熒光光譜法快速測(cè)定04-26
偏振激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜法測(cè)定鹵水中主量元素硫氯鉀鈣04-27