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一維光子晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)對禁帶帶隙的影響研究
采用平面波法(PWM)計算一維光子晶體的帶隙結(jié)構(gòu).分別就構(gòu)造一維光子晶體結(jié)構(gòu)的高低折射膜層的介電常數(shù)及填充比(高折射膜層的厚度與晶體周期長度的比值)對禁帶帶隙寬度的影響作出分析.通過最小二乘曲線和曲面擬合得到帶寬與介電常數(shù)或帶寬與填充比的函數(shù)關(guān)系圖,以確定最佳的禁帶帶寬,從而設(shè)計一維光子晶體的周期結(jié)構(gòu).對高低折射膜層為GaAs/空氣組成的一維光子晶體,介電常數(shù)比約為13/1,當(dāng)填充比為0.16時,計算得禁帶帶寬為0.2564×2πc/Λ,禁帶的中心頻率為0.3478×2πc/Λ,與實驗數(shù)據(jù)吻合.
作 者: 劉兵 竺子民 LIU Bing ZHU Zi-min 作者單位: 華中科技大學(xué),光電子科學(xué)與技術(shù)學(xué)院,湖北,武漢,430074 刊 名: 應(yīng)用光學(xué) ISTIC PKU 英文刊名: JOURNAL OF APPLIED OPTICS 年,卷(期): 2007 28(4) 分類號: O734.2 TN303-34 關(guān)鍵詞: 平面波法 光子禁帶 帶隙寬度 最小二乘曲線和曲面擬合【一維光子晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)對禁帶帶隙的影響研究】相關(guān)文章:
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