基于掃頻時域法測量的RCS外推技術研究

大目標的室內RCS測量不易滿足遠場條件,外推技術可將測試距離大幅度縮短,從而克服此缺陷.針對點頻連續(xù)波方法測試RCS精度很有限,致使外推結果精度不高,本文提出基于掃頻的時域法RCS外推技術.掃頻測試能得到高精度的時域測試數(shù)據(jù),通過對時域數(shù)據(jù)進行有效的變換,獲取準確的頻域幅相信息,從而外推出較高精度的遠場RCS,實現(xiàn)大目標的RCS測量.通過對金屬圓柱的測試,驗證了該技術的優(yōu)越性.

作 者： 李南京 許家棟 張麟兮 胡楚鋒 LI Nan-jing XU Jia-dong ZHANG Lin-xi HU Chu-feng   作者單位： 西北工業(yè)大學無人機特種技術國防科技重點實驗室,西安,710072  刊 名： 微波學報  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF MICROWAVES  年，卷(期)： 2007 23(4)  分類號： O4  關鍵詞： 雷達散射截面   時域   掃頻   外推  

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