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六氰合鐵酸銅鈷薄膜修飾鉑電極的電化學、XRD及XPS研究
采用循環(huán)伏安法在鉑電極上電聚合了六氰合鐵酸銅鈷薄膜,并用電化學、XRD和XPS對該薄膜進行了表征.研究表明此薄膜屬于取代型的多核六氰合鐵酸鹽,由Cu2+,Co2+和Fe2+共同占據(jù)晶格格點.通過改變Cu2+,Co2+和Fe3+在沉積液中的比例可以改變聚合膜的性質.隨沉積液中Cu2+含量的增加,聚合膜中銅的含量相應增加而晶格常數(shù)則逐漸減小,但保持著面心立方的晶格對稱性.當沉積液中Cu2+:Co2+:Fe3+=1:1:2時,得到的聚合膜具有比較典型的性質,該薄膜修飾的鉑電極在pH4~10之間均能保持著穩(wěn)定的電化學響應.其對一價陽離子的選擇性順序為K+>Li+>Na+>NH4+,與單組分的六氰合鐵酸銅和六氰合鐵酸鈷都存在著較大的差別.XPS實驗表明氧化態(tài)薄膜中鐵元素以Fe(Ⅲ)存在,并且在X射線的照射下很快轉化為Fe(Ⅱ).
作 者: 崔興品 汪夏燕 張雷 林祥欽 作者單位: 中國科學技術大學化學系,合肥,230026 刊 名: 化學學報 ISTIC SCI PKU 英文刊名: ACTA CHIMICA SINICA 年,卷(期): 2002 60(4) 分類號: O6 關鍵詞: 混合金屬六氰合鐵酸鹽薄膜 化學修飾電極 XRD XPS【六氰合鐵酸銅鈷薄膜修飾鉑電極的電化學、XRD及XPS研究】相關文章:
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