等離子體X射線吸收譜及發(fā)射譜研究

報(bào)道了計(jì)算高溫高密等離子體吸收譜和發(fā)射譜(光學(xué)薄)的理論方法;該方法基于相對(duì)論原子理論,可以計(jì)算任何單元素以及多元素等離子體的譜分辨X射線吸收譜和發(fā)射譜光學(xué)薄;應(yīng)用量子虧損理論可以減少計(jì)算量.利用該方法計(jì)算金等離子體LTE吸收譜,計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)符合良好.對(duì)金等離子體LTE的光學(xué)薄發(fā)射譜進(jìn)行了研究,這將有利于對(duì)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步的診斷分析.該理論計(jì)算方法可提供等離子體內(nèi)各電離度能級(jí)布居等重要物理參數(shù).因此經(jīng)"標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)"檢驗(yàn)的該理論計(jì)算方法將是提供ICF"精密"物理輻射參數(shù)的重要基礎(chǔ).

作 者： 彭永倫 楊莉 王民盛 李家明   作者單位： 彭永倫,楊莉,王民盛(清華大學(xué),物理系及原子分子納米科學(xué)中,心,北京,100084)

李家明(清華大學(xué),物理系及原子分子納米科學(xué)中,心,北京,100084中國(guó)科學(xué)院,物理研究所,北京,100080) 

刊 名： 強(qiáng)激光與粒子束  ISTIC EI PKU 英文刊名： HIGH POWER LASER AND PARTICLE BEAMS  年，卷(期)： 2002 14(3)  分類號(hào)： O434.13  關(guān)鍵詞： X射線   等離子體   吸收譜   發(fā)射譜  

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