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電子與太陽電磁射線綜合輻照對Teflon FEP/Al光學(xué)性能的影響
在30keV的電子、質(zhì)子單獨輻照及電子與太陽電磁射線綜合輻照作用下,對Teflon FEP/Al第二表面鏡光學(xué)性能的演化進(jìn)行了研究.試驗結(jié)果表明,在相同輻照通量與能量乘積的情況下,電子與質(zhì)子單獨輻照后Teflon FEP/Al涂層材料的太陽吸收比變化相同,故可用電子與太陽電磁射線綜合輻照簡化地面模擬加速試驗.Teflon FEP/Al光學(xué)性能退化動力學(xué)曲線可描述成加速系數(shù)與輻照時間乘積(稱為當(dāng)量輻照時間)的指數(shù)函數(shù)形式.在當(dāng)量輻照時間相同的情況下,太陽吸收比的變化與加速系數(shù)無關(guān).
作 者: 李春東 楊德莊 何世禹 M.M.Mikhailov 作者單位: 李春東,楊德莊,何世禹(哈爾濱工業(yè)大學(xué),空間材料與環(huán)境工程實驗室,黑龍江,哈爾濱,150001)M.M.Mikhailov(托姆斯克控制與電子技術(shù)國立大學(xué),空間材料實驗室,俄羅斯,托姆斯克,634034)
刊 名: 強激光與粒子束 ISTIC EI PKU 英文刊名: HIGH POWER LASER AND PARTICLE BEAMS 年,卷(期): 2002 14(6) 分類號: O483 O433.4 關(guān)鍵詞: 熱控涂層 輻照 光學(xué)性能 地面模擬 加速試驗【電子與太陽電磁射線綜合輻照對Teflon FEP/Al光學(xué)性能的影響】相關(guān)文章:
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