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折射率可調(diào)疏水型SiO2光學(xué)薄膜的制備研究

時(shí)間:2023-04-29 21:26:52 數(shù)理化學(xué)論文 我要投稿
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折射率可調(diào)疏水型SiO2光學(xué)薄膜的制備研究

以正硅酸乙酯(TEOS)為有機(jī)醇鹽前驅(qū)體,采用溶膠-凝膠技術(shù),通過控制制備條件,結(jié)合三甲基氯硅烷(TMCS)對SiO2膠粒表面的修飾過程,制備出折射率可調(diào)的疏水型SiO2薄膜.對薄膜采用了不同的后處理方式,研究了氨和水蒸氣混合氣體熱處理技術(shù)對薄膜疏水性能的影響.采用橢偏儀、FTIR和接觸角測試儀對薄膜的折射率、紅外特性、接觸角等的測試研究表明:疏水型SiO2薄膜的折射率可在1.35~1.20之間連續(xù)可調(diào),與傳統(tǒng)熱處理相比,混合氣氛熱處理使薄膜的折射率略有增加,在所研究的范圍內(nèi)折射率平均增加0.02左右;SiO2膠粒表面的親水性O(shè)H基團(tuán)可基本被非活性CH3基團(tuán)代替,薄膜的疏水能力得到進(jìn)一步提高;接觸角由未作表面修飾時(shí)的40°左右增加到表面修飾并結(jié)合混合氣氛熱處理的137°左右.

折射率可調(diào)疏水型SiO2光學(xué)薄膜的制備研究

作 者: 馬建華 吳廣明 魏建東 程銀兵 孫琪 沈軍 王玨   作者單位: 同濟(jì)大學(xué),波耳固體物理研究所,上海,200092  刊 名: 原子能科學(xué)技術(shù)  ISTIC EI PKU 英文刊名: ATOMIC ENERGY SCIENCE AND TECHNOLOGY  年,卷(期): 2002 36(4)  分類號: O484  關(guān)鍵詞: 溶膠-凝膠   SiO2疏水薄膜   表面修飾   氨處理  

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