逐次截尾樣本下電子元件混聯(lián)系統(tǒng)可靠性指標(biāo)的EB估計(jì)

在逐次截尾樣本下,研究電子元件混聯(lián)系統(tǒng)可靠性指標(biāo)的估計(jì)問題.將Bayes方法和極大似然法相結(jié)合,在平方損失下,獲得部件失效率、系統(tǒng)可靠度和平均壽命的經(jīng)驗(yàn)8ayes估計(jì).最后給出隨機(jī)模擬例子,說明該方法的正確性.結(jié)果表明可靠性指標(biāo)的經(jīng)驗(yàn)Bayes估計(jì)值精度較高.

作 者： 師小琳 SHI Xiaolin   作者單位： 西安郵電學(xué)院,陜西,西安,710121  刊 名： 現(xiàn)代電子技術(shù)  ISTIC 英文刊名： MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE  年，卷(期)： 2008 31(12)  分類號(hào)： O213.2 TP710  關(guān)鍵詞： 混聯(lián)系統(tǒng)   可靠性指標(biāo)   逐次截尾樣本   經(jīng)驗(yàn)Bayes估計(jì)  

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