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電子儲(chǔ)存環(huán)中閉合軌道和色散函數(shù)的校正
電子儲(chǔ)存環(huán)中,由磁鐵元件制造誤差和安裝誤差導(dǎo)致的閉合軌道和色散函數(shù)的畸變,通常會(huì)引起一系列的負(fù)面效應(yīng).介紹了以合肥光源儲(chǔ)存環(huán)為模型,用響應(yīng)矩陣的奇值分解法對(duì)閉合軌道和色散函數(shù)進(jìn)行校正的可行性研究結(jié)果.
作 者： 李永軍 王琳 馮光耀 孫葆根 徐宏亮 李為民 劉祖平 作者單位： 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)國(guó)家同步輻射實(shí)驗(yàn)室,合肥,230029 刊 名： 高能物理與核物理 ISTIC SCI PKU 英文刊名： HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS 年，卷(期)： 2003 27(8) 分類號(hào)： O4 關(guān)鍵詞： 電子儲(chǔ)存環(huán) 閉合軌道 色散函數(shù) 響應(yīng)矩陣 矩陣奇值分解 基于束流的準(zhǔn)直【電子儲(chǔ)存環(huán)中閉合軌道和色散函數(shù)的校正】相關(guān)文章：
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