X射線熒光光譜法測定鋅鋁硅合金中硅和鐵

采用島津MXF-2400型多道X熒光光譜儀測定鋅鋁硅合金中硅及鐵的含量,對樣品分析面進行了選擇,考察了分析面光潔度、樣品放置時間對測定的影響條件.方法樣品前期處理簡便,分析速度快,靈敏度高,硅和鐵的相對標準偏差(RSD,n=11)分別為1.15%和0.44%.與其他方法對照,結果相符.

作 者： 王軍學 WANG Jun-xue   作者單位： 湖南株冶火炬金屬股份有限公司質保部,湖南,株洲,412004  刊 名： 巖礦測試  ISTIC PKU 英文刊名： ROCK AND MINERAL ANALYSIS  年，卷(期)： 2008 27(1)  分類號： O657.34 O613.72 O614.811  關鍵詞： X射線熒光光譜法   鋅鋁硅合金   硅   鐵  

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