通過SERS手段高靈敏度檢測純化的碳納米管的Raman-D峰

本文采用"三明治"(濾膜/ 碳納米管/ 銀膠)SERS體系,對提純后的碳納米管樣品進行缺陷檢測.通過與其拉曼散射光譜進行比較,發(fā)現(xiàn)較平的缺陷峰D峰在SERS光譜中得到明顯地增強,反應出多種碳雜質(zhì)的信息.該方法使用樣品量很少(5 μg),光譜信息比普通拉曼要豐富很多.該方法可用于高靈敏度的檢測純化后的樣品的缺陷.

作 者： 李娜 方炎 LI Na FANG Yan   作者單位： 北京市納米光電子重點實驗室首都師范大學,北京,100037  刊 名： 光散射學報  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LIGHT SCATTERING  年，卷(期)： 2008 20(3)  分類號： O657.37  關鍵詞： 碳納米管   表面增強拉曼散射   Raman-D峰  

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