基于GPS數(shù)據(jù)確定電離層延遲的蝕因子法

通過建立電離層交叉點(diǎn)(ionospheric pierce point,IPP)點(diǎn)的電離層蝕因子(ionospheric eclipse factor,IEF)λ及其影響因子(ionospheric influence factor,IFF)-λ,綜合λ,-λ與IPP點(diǎn)的地方時(shí)t,研究了一種利用GPS數(shù)據(jù)確定電離層延遲的新方法--電離層蝕因子法(ionospheric eclipse factor method,IEFM).IEFM方法強(qiáng)調(diào)根據(jù)電離層的變化特性選擇合理的TEC模型.初步結(jié)果表明,利用IEFM擬合的電離層延遲的改正精度更接近L3觀測自校正電離層延遲的精度.

作 者： 袁運(yùn)斌 歐吉坤   作者單位： 中國科學(xué)院測量與地球物理研究所,動(dòng)力大地測量學(xué)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,武漢,430077  刊 名： 自然科學(xué)進(jìn)展  ISTIC PKU 英文刊名： PROGRESS IN NATURAL SCIENCE  年，卷(期)： 2005 15(3)  分類號(hào)：   關(guān)鍵詞： 全球定位系統(tǒng)(GPS) 電離層延遲 電子總含量(TEC) 電離層蝕因子法  

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